DLP無(wú)縫拼接屏的光譜分析是一項(xiàng)利用物理材料樣本對(duì)各種波長(zhǎng)光線存在不同吸收的原理來(lái)識(shí)別和定義物理材料特性的強(qiáng)大技術(shù)。樣本可能是處于任何物理階段的材料：固體、液體、氣體或等離子，可能是發(fā)光或吸光材料。DLP無(wú)縫拼接屏的光譜分析中所用光線可能處于人眼可見(jiàn)波長(zhǎng)范圍內(nèi)，也可能處于電磁波譜的紅外線或紫外線區(qū)。DLP無(wú)縫拼接屏的光譜分析要求將光線擴(kuò)散為彩虹波長(zhǎng)，以便可以測(cè)量相對(duì)于波長(zhǎng)的光線強(qiáng)度變化。
DLP無(wú)縫拼接屏的光譜分析利用色散光學(xué)元件，在空間上將光譜擴(kuò)散為分離波長(zhǎng)。有時(shí)使用棱鏡，但通常使用衍射光柵，因?yàn)槠渚哂休^高的色散，能夠針對(duì)寬范圍光波長(zhǎng)進(jìn)行優(yōu)化。光譜分析中使用幾個(gè)光學(xué)和物理排列。寬帶光源產(chǎn)生光線，然后經(jīng)收集并使之成為平行光，再通過(guò)一條狹縫。狹縫形成明顯的幾何狀光源，照射在衍射光柵上。衍射光柵恰好在不同的角度反射光線的每個(gè)波長(zhǎng)。數(shù)字微鏡器件的鏡片陣列上擴(kuò)散分散的光譜。
DLP無(wú)縫拼接屏的嵌入式處理器命令DMD控制器只打開(kāi)精確的鏡片列，其由每個(gè)時(shí)刻所需的特定波長(zhǎng)的光線照亮。在很短的時(shí)間內(nèi)，連續(xù)掃描整個(gè)光譜，用來(lái)照亮樣本。單點(diǎn)傳感器檢測(cè)到光線通過(guò)樣品，嵌入式處理器對(duì)信號(hào)進(jìn)行處理。完成的測(cè)量結(jié)果顯示在光線強(qiáng)度與波長(zhǎng)圖形中。此曲線的獨(dú)特形狀構(gòu)成了被檢查材料的光譜特征。通過(guò)將樣本的光譜特征與存儲(chǔ)的參考特征相對(duì)比，有可能查明樣本的物理和化學(xué)成份。
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